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ATE

       探针卡(probe card)是晶圆测试(CP测试)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程。在CP测试中,通过探针卡中的探针(probe)与晶圆上的焊垫(pad) 或者凸块(bump)接触后,才能与晶圆中的芯片(chip) 建立电气连接,在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加到Loadboard上。
应用:晶元切割前,可以测试晶圆品质,筛选出不良品,以节省封装的成本。同时可以更直接的知道Wafer 的良率。